基本信息
| 标准名称： | 计数检查单水平和多水平连续抽样检查程序及表 |
| 英文名称： | Single-and multi-level continuous sampling procedures and tables for inspection by attributes |
| 中标分类： | |
| 发布部门： | 中华人民共和国电子工业部 |
| 发布日期： | 1998-03-18 |
| 实施日期： | 1998-05-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 周仁 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 1998-04-01 |
| 页数： | 69页 |
适用范围
本标准规定了CSP-1型、CSP-F型、CSP-2型、CSP-T型、及CSP-V型、五种不同类型的计数检查连续抽样检查方案，并为它们分别提供了相应的操作程序及与之有关的参数表。
另外，本标准还提供了除CSP-F型之外的其它四种不同类型连续抽样检查方案之功能曲线的绘制方法，以及对这些曲线的说明和使用方法。
本标准适用于对流动单位产品的检查。
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