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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part16-1:Microwaveintegratedcircuits-Amplifiers;Amendment1
【原文标准名称】:半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器.修改件1
【标准号】:IEC60747-16-1AMD1-2007
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2007-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:放大器;定义;电气工程;电子工程;电子设备及元件;集成电路;测量;测量技术;微波放大器;半导体器件
【英文主题词】:Amplifiers;Definitions;Dimensioning;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Integratedcircuits;Measurement;Measuringtechniques;Microwaveamplifiers;Poweramplification;Ratings;Semiconductordevices;Terminology;Testing
【摘要】:ThisisAmendment1toIEC60747-16-1-2001(Semiconductordevices-Part16-1:Microwaveintegratedcircuits-Amplifiers)
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:17P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Aerospaceseries-Metallicmaterials-Testmethods-Part2:Tensiletestingatelevatedtemperature;GermanandEnglishversionEN2002-002:2005,CorrigendatoDINEN2002-002:2006-11
【原文标准名称】:航空航天系列.金属材料.试验方法.第2部分:升温抗拉测试
【标准号】:DINEN2002-002Berichtigung1-2007
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2007-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空航天运输;航空运输;名称与符号;尺寸;断裂伸长;作标记;材料;测量;金属材料;金属;多语种的;精密度;弹性极限应力;试样;航天运输;符号;温度;温度测量;抗拉测试;抗拉试验;试验设备;测试;单位
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:V11
【国际标准分类号】:49_025_05;49_025_15
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:德语