ANSI/ISO 12206-1995 成像材料.抗氧化银成像化学变化效力的评价方法
时间:2024-05-26 00:03:32 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9173
【英文标准名称】:ImagingMaterials-MethodsfortheEvaluationoftheEffectivenessofChemicalConversionofSilverImagesAgainstOxidation
【原文标准名称】:成像材料.抗氧化银成像化学变化效力的评价方法
【标准号】:ANSI/ISO12206-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:摄影胶片;抗氧化;摄影;材料
【英文主题词】:photography;photographicfilm;oxidationresistance;materials
【摘要】:
【中国标准分类号】:G84
【国际标准分类号】:37_040_20
【页数】:
【正文语种】:英语
基本信息
| 标准名称： | 液态烃动态测量 体积计量流量计检定系统 第3部分：脉冲插入技术 |
| 英文名称： | Liquid hydrocarbons—Dynamic measurement—Proving system for volumetric meters—Part 3:Pulse interpolation techniques |
| 中标分类： |
石油 >>
石油勘探、开发、集输设备 >>
油、气集输设备 |
| ICS分类： |
石油及相关技术 >>
石油和天然气工业设备 >>
容积测量和容积设备
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| 替代情况： | 替代GB/T 17286.3-1998 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2010-09-02 |
| 实施日期： | 2010-12-01 |
| 首发日期： | 1998-04-02 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 石油工业油气计量及分析方法专业标准化技术委员会油气计量分技术委员会 |
| 归口单位： | 石油工业油气计量及分析方法专业标准化技术委员会油气计量分技术委员会 |
| 起草单位： | 石油工业油气计量及分析方法专业标准化技术委员会油气计量分技术委员会 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2010-12-01 |
| 页数： | 16页 |
适用范围
本标准给出了在常规体积管或小容积体积管检定涡轮或容积式流量计的系统中，为提高流量计的分辨力，应用脉冲插入技术时应遵守的使用方法和条件。在检定其他形式的流量计时，也可参照本标准提供的方法。本标准叙述了三种最常用的脉冲插入技术以及它们的使用条件；还叙述了检验脉冲插入系统运行状态所使用的设备和校验方法；也叙述了测量流量计脉冲间隔不规则性的一些方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 石油 石油勘探 开发 集输设备 油 气集输设备 石油及相关技术 石油和天然气工业设备 容积测量和容积设备
基本信息
| 标准名称： | 半导体器件 第12-1部分: 光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范 |
| 英文名称： | Semiconductor devices-Part 12-1:Optoelectronic devices-Blank detail specification for light emitting/infrared emitting diodes with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
光电子器件 >>
红外器件 |
| ICS分类： |
电子学 >>
光电子学、激光设备
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| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
| 发布日期： | 2002-12-01 |
| 实施日期： | 2003-05-01 |
| 首发日期： | 2002-12-04 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 主管部门： | 信息产业部（电子） |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： | 全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所（CESI） |
| 起草人： | 赵英 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2003-05-01 |
| 页数： | 平装16开， 页数：12， 字数：23千字 |
| 书号： | 155066.1-19451 |
适用范围
IEC 电子器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行地电子器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范使半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。IEC 60747-10/QC 700000:1991 半导体器件 第10部分 分立器件和集成电路总规范。IEC 60747-12/QC 720100:1991 半导体器件 第12部分 光电子器件分规范
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 光电子器件 红外器件 电子学 光电子学 激光设备